上海功能測(cè)試設(shè)計(jì)-億昇精密 ：

ICT在線測(cè)試機(jī)的優(yōu)點(diǎn)

3.提高產(chǎn)品的一次良品率。提供大量統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，使生產(chǎn)經(jīng)理可以及時(shí)監(jiān)視、諧和和管理生產(chǎn)過程。

4.減少誤判錯(cuò)誤：信通技術(shù)對(duì)錯(cuò)誤檢測(cè)準(zhǔn)確牢靠，防止人對(duì)失敗的錯(cuò)誤揣測(cè)。

5.降低運(yùn)營(yíng)本錢：ICT能夠一次測(cè)試整個(gè)板，也能夠同時(shí)測(cè)試多個(gè)結(jié)合板。你只需求一個(gè)操作員。

6.產(chǎn)品經(jīng)過ICT測(cè)試后，為后期的功能測(cè)試去除一切躲藏的問題。

7.用現(xiàn)代電子生產(chǎn)線帶ICT停止測(cè)試，是產(chǎn)質(zhì)量量?jī)?yōu)良的卡！是你訂單的得力助手，是客戶對(duì)訂單的自證。

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視頻作者：深圳市億昇精密光電科技有限公司

ICT測(cè)試機(jī)參數(shù)的調(diào)整方法

測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)請(qǐng)求：

1.定位孔采用非金屬化定位孔，誤差小于0.05mm，定位孔四周3mm范圍內(nèi)不應(yīng)有元件。

2.測(cè)試點(diǎn)的直徑不小于0.8mm，測(cè)試點(diǎn)之間的間隔不小于1.27mm，測(cè)試點(diǎn)與元件的間隔不小于1.27mm，否則錫會(huì)流入測(cè)試點(diǎn)。

3.假如將高度大于4mm的元件放置在測(cè)試面上，避開旁邊的測(cè)試點(diǎn)，間隔大于4mm，否則無法植入測(cè)試治具。

4.每個(gè)電時(shí)令點(diǎn)必需有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，每個(gè)IC必需有POWER和GROUND測(cè)試點(diǎn)，并盡可能靠近這個(gè)元件，間隔IC2.5mm以內(nèi)。

ICT測(cè)試盲點(diǎn)的原因

8.電容器的電容太小，測(cè)試通常不準(zhǔn)確。

9.IC，晶體振蕩器，可調(diào)電阻器（VR），熱敏電阻，浪涌吸收器和其他組件的內(nèi)部性能無法測(cè)量或無法準(zhǔn)確測(cè)試。

10.二極管和晶體管與大電容器并聯(lián)銜接，無法測(cè)量二極管和晶體管。

11.組件的上下點(diǎn)在同一個(gè)短路組中，并且這些組件不可測(cè)試。

12.在IC空焊測(cè)試過程中，假設(shè)被測(cè)IC的引腳和電容器并聯(lián)銜接，則該引腳假設(shè)斷開則不能中止測(cè)試。

13.小電容器與大電容器（C1//C2）并聯(lián)銜接，無法測(cè)量小電容器。普通來說，C2的電容是C1的10倍以上。C1是不可預(yù)測(cè)的。